Настольный SuperSEM

Настольные растровые электронные микроскопы SuperSEM

Растровая (сканирующая) электронная микроскопия (РЭМ) является одним из основных методов исследования морфологии и микроструктуры материалов за счёт формирования изображения поверхности с использованием сфокусированного пучка электронов. Метод позволяет получать высокодетализированные изображения, а также проводить локальный элементный анализ исследуемых образцов. Настольный растровый электронный микроскоп — оптимальное решение для оперативного контроля качества и проведения рутинных исследований в лабораториях и на производстве.

Примеры использования:

Академические исследования, материаловедение, металлургия, полупроводниковая промышленность: анализ морфологии и микроструктуры материалов, исследование размеров и формы частиц, изучение изломов, покрытий и тонких плёнок.
Промышленное производство и контроль качества: анализ морфологии поверхности и микродефектов, исследование причин возникновения дефектов (разрушений, отслоений, трещин), идентификация и локальный анализ загрязнений, оценка структуры и однородности покрытий.
Электроника и приборостроение: контроль топологии печатных плат, анализ микроструктуры компонентов, выявление дефектов пайки и микроразрушений.
Фармацевтика и химическая промышленность: исследование морфологии порошков, гранул и агломератов, контроль однородности и распределения размеров частиц.
Полимерное производство: анализ структуры полимеров, исследование распределения наполнителей, изучение механизмов разрушения.

Особенности прибора

Высокая скорость сканирования: электроника с полосой пропускания до 10 МГц обеспечивает быстрое формирование изображения без артефактов (смазывания и шлейфов), позволяя наблюдать образцы в режиме реального времени без потери деталей.
Компактность и простота размещения: настольное исполнение не требует специализированного помещения, виброизоляционных столов и сложной инфраструктуры. Прибор работает от стандартной электросети и готов к эксплуатации по принципу plug-and-play.
Расширенная визуализация (окрашивание СЭМ-изображений): технология псевдоцветового картирования изображений повышает контрастность и наглядность, облегчает распознавание структурных особенностей и упрощает сравнительный анализ образцов.
Сравнение спектров в реальном времени: результаты элементного анализа могут отображаться и сопоставляться с ранее полученными спектрами непосредственно в процессе измерения, без ожидания завершения сбора данных.
энергодисперсионный анализ (EDX) с визуализацией: гибкий выбор области анализа (точка, линия, поверхность) и современные алгоритмы обработки обеспечивают точное разделение близких спектральных пиков и наглядное отображение распределения элементов. Позволяет эффективно исследовать однородность, диффузию и интерфейсы в материалах.
Наличие ключевых детекторов (SE, BSE): прибор оснащён детекторами вторичных и обратнорассеянных электронов, что позволяет получать как детализированную информацию о морфологии поверхности, так и контраст по химическому составу, обеспечивая более полное представление об исследуемом образце.
Система компенсации заряда: реализованные режимы низкого вакуума и пониженного ускоряющего напряжения эффективно снижают эффект зарядки, что позволяет исследовать непроводящие образцы без сложной пробоподготовки и нанесения проводящих покрытий.

Технические характеристики

Параметр	SuperSEM N10	SuperSEM N10eX		SuperSEM N10eV	SuperSEM N10XL
Ускоряющее напряжение	5 / 10 / 15 кВ			5 / 10 / 15 / 20 / 25 / 30 кВ	5 / 10 / 15 / 20 кВ
Увеличение	×10 – ×100 000 (фото) / до ×250 000 (дисплей)
Детектор	BSE	BSE — высокочувствительный 4-сегментный детектор обратнорассеянных электронов SE — детектор вторичных электронов EDX — система энергодисперсионного анализа с псевдоцветового картирования
Параметры EDX	—	Тип детектора: Кремниевый дрейфовый детектор (SDD) Энергетическое разрешение: 130 эВ Площадь детектора: 30 мм² Диапазон элементов: B – Cf
Электронная пушка	Вольфрамовый катод (картриджного типа, преднастроенный)
Режимы визуализации	Обратнорассеянные электроны (BSE)	Обратнорассеянные электроны (BSE) Вторичные электроны (SE) EDX-картирование в режиме реального времени Комбинированные режимы: BSE + SE BSE + SE + EDX-картирование
Режим вакуума	Стандартный режим Режим компенсации заряда
Максимальный размер образца	Ø 90 мм / толщина до 40 мм					Ø 200 мм / толщина до 60 мм
3-осевой предметный столик	X: ±25 мм Y: ±25 мм Z: 30 мм					X: ±50 мм Y: ±50 мм Z: 60 мм
Габариты (Ш×Г×В)	292 × 570 × 515 мм
Масса	55 кг	56 кг	57 кг			66 кг

О производителе

Фирма LANScientificCo., Ltd., основанная в 2012 году, занимается исследованиями и разработками в области точных приборов high-end по мировым стандартам. Компания специализируется на производстве передовых рентгенофлуоресцентных спектрометров (энергодисперсионных / с полным внешним отражением), порошковых рентгеновских дифрактометрах, анализаторах толщины покрытия, рамановских спектрометрах, лазерно-искровых эмиссионных спектрометрах. Производитель LANScientific занимает лидирующие позиции на рынке Азии и непрерывно совершенствует свои аналитические инструменты.