МИКРОСКОП JEOL JSM 7800F

JEOL JSM 7800F sJSM 7800F растровый электронный микроскоп высокого разрешения с катодом Шоттки и супергибридной объективной линзой. В этом микроскопе реализованы последние достижения в технологии электронной оптики, что позволяет получать на данном микроскопе изображения с очень высоким разрешением.



 

 

Описание

JSM 7800F растровый электронный микроскоп высокого разрешения с катодом Шоттки и супергибридной объективной линзой. В этом микроскопе реализованы последние достижения в технологии электронной оптики, что позволяет получать на данном микроскопе изображения с очень высоким разрешением. Микроскоп JSM 7800F является уникальным исследовательским инструментом для исследования в различных областях науки.

Микроскоп JEOL JSM 7800F позволяет исследовать широкий спектр материалов позволяя получать изображения с очень высоким разрешением. Это достигается за счет технических решений примененных при создании микроскопа. В электронно-оптической колонне реализовано технология Shottky In-Lens FEG заключающая в том, что катод находится внутри конденсорной линзы это позволяет более эффективно, по сравнению с обычным размещением катода, собирать эмитируемы с катода электроны и фокусировать их. Супергибридная объективная линза позволяет значительно уменьшить хроматические и сферические аберации, что позволяет существенно улучшить разрешение, особенно при малых ускоряющих напряжениях. Микроскоп оснащен системой Gentle Beam (GB) которая позволяет уменьшать скорость электронов падающего пучка и ускорять испускаемые электроны, что существенно улучшает соотношение сигнал/шум и позволяет значительно улучшить качество изображения при низких ускоряющих напряжениях.

Микроскоп оборудован 4-мя типами детекторов: верхний детектор электронов, верхний детектор вторичных электронов, детектор обратно отраженных электронов и нижний детектор вторичных электронов. Перед верхним детектором электронов установлен энергетический фильтр, который позволяет варьировать количество вторичных и обратно отраженных электронов, попадающих в детектор, путем выделения диапазона энергии электронов проходящих через фильтр. При этом не прошедшие через фильтр электроны детектируются верхним детектором вторичных электронов. Применение энергетического фильтра позволяет контрастировать на изображении области одинакового состава, но различные по плотности.

Супергибридная объективная линза не оказывает магнитного воздействия на образец, что позволяет без затруднений исследовать даже сильно магнитные материалы, например, такие как NdFeB с помощью аналитических приставок.

Спецификации

Аппаратная часть

Разрешение

Ускоряющее напряжение 

0,8 нм (15 кВ), 1,2 нм (1 кВ), 3,0нм (15 кВ, 5 нА, рабочий отрезок 10 мм)

10 В - 30 кВ

Увеличение

Ток пучка

x25- x1 000 000

1 пА - 200 нА

Линза, оптимизирующая угол вхождения пучка в диафрагму

Энергетический фильтр

Встроена по умолчанию 

Доступен в базовой комплектации

Предметный столик

Диапазон перемещений 

Эвцентрический гониометрический столик
Моторизованный по 5-ти осям

X: 70 мм, Y: 50мм
Наклон: от -5° до 70°
Вращение: 360°

Диапазон рабочих отрезков

Вакуумный шлюз

от 2 до 25 мм

Входит в базовую комплектацию

Режим торможения пучка «Gentle Beam»

Вакуумная система

Входит в базовую комплектацию

Полностью автоматизирована
Ионный насос — 2 шт.
Турбомолекулярный насос — 1 шт.
Форвакуумный ротационный насос — 1 шт.

 

 

В фокусе внимания:

Криостаты производства Advanced Research SystemКриостаты замкнутого цикла от Advanced Research System

Жидкостной хроматограф Agilent 1260 Infinity LCЖидкостной хроматограф Agilent 1260 Infinity LC

ТГц-оборудование производства TeraViewТерагерцовое оборудование производства TeraView

Атомно-абсорбционные спектрометры Agilent 240Атомно-абсорбционные спектрометры Agilent серий 240 и 280

Гелий-кадмиевые лазеры KIMMON, 325 и 442 нмГелий-кадмиевые лазеры KIMMON, 325 и 442 нм

Исследовательские ИК-Фурье спектрометрыИК-Фурье спектрометры

GC-IMS FlavourSpec производства GASGC-IMS FlavourSpec производства GAS

Газовые Ar и Kr лазеры LEXEL (Вид, глубокий УФГазовые Ar и Kr лазеры LEXEL (Вид, глубокий УФ)

Трехквадрупольный ГХ-МС Agilent 7000CТрехквадрупольный ГХ-МС Agilent 7000C

Hi-end криогенные станции от Leiden Cryogenics B.V.Hi-end криогенные станции от Leiden Cryogenics B.V.

Наносекундные лазеры 266, 355, 532, 1064 нмDSS1064

Столики для микроскопии от Linkam Scientific Instr.Столики для микроскопии от Linkam Scientific Instruments