Визуализация и спектроскопия солнечных элементов

Собственная технология TeraView открывает уникальные возможности терагерцового (ТГц) излучения и представляет собой безопасный, неинвазивный и неразрушающий метод для получения эффективной технологии спектроскопии и визуализации для характеристики материалов важных для солнечной и полупроводниковой промышленности.

 

Импульсная природа терагерцового метода обеспечивает трехмерную визуализацию покрытий и структур в кремниевых и других материалах. Было продемонстрировано применение метода при определении
трещин и дефектов в кремнии, в ходе проверки покрытий на тиглях для производства. Уникальные спектроскопические возможности нашей продукции также используются для высокочастотного анализа и других свойств материалов.

Испытание тиглей для усовершенствования процесса нанесения
покрытий и определения трещин. Подписи на рисунке: Peak intensity - Максимальная интенсивность; B-scan - Развертка типа B; Time delay (mm) - Временная задержка (мм); SiN coating - Кремниевое покрытие; Crucible - Тигель; SiN/Crucible interface - Место контакта кремния/тигель.

Визуализация кремниевых и тонких пленок на наличие глубинных трещин, включений, дефектов и следов разделения. Подписи на рисунке: С-scan section - Сечение типа С; position/mm - позиция (мм).