Модуль электропроводности обеспечивает возможность выполнения измерений сопротивления посто-янному току и измерения напряжения Холла в образцах с сопротивлением в диапазоне от 1 мкОм до 1 МОм.
Cryogenic предлагает широкий выбор держателей образцов с различным числом соединений для образцов и для различных размеров образцов. Возможно использование проводов следующих типов: витая пары, миниатюрные коаксиальные кабели (для высокочастотных измерений) или триаксиальные линии (для измерений с очень низким током).
Cryogenic предлагает модуль для проведения измерений сопротивления переменному току. Опция включает в себя специальный зонд для образцов с микрокоаксиальным кабелем, источник постоянного / переменного тока Keithley и синхронный усилитель (Lock-In Amplifier) Stanford Research Systems.
6-контактный чип для образцов и наконечник пробы
8-контактный чип для образцов и наконечник пробы
20-контактный чип для образцов и наконечник пробы
Зонд (проба) для нескольких образцов
Резистивный переход в коротком прямом образце проволоки NbTi под разными углами между проволокой и магнитным полем
Критическая температура в зависимости от угла. Эффективный фактор анизотропии - 2.4
Сопротивление короткого образца Nb3Sn при различных приложенных магнитных полях
Измерения очень низкого напряжения постоянного тока, сделанные с помощью реверсирования полярности, чтобы избежать доминирующего измерения тепловых напряжений
Для обычного определения характеристик полупроводниковых материалов требуется измерение концентрации и подвижности носителей. Эти параметры получаются на основе данных об удельном сопротивлении и коэффициенте Холла для данного материала. Метод Ван дер Пау обеспечивает возможность получить эту информацию при использовании тонких пленок без паттерна или многослойных структур в одном эксперименте. Этот метод очень эффективен, поскольку он не требует специальной подготовки образцов, а все необходимые данные собираются в одной развертке магнитного поля.
Для реализации измерения по методу Ван дер Пау, ток должен проходить последовательно вдоль каждой кромки и каждой диагонали образца. Эта функциональность достигается с помощью автоматического коммутатора каналов измерения, который программно контролируется. На графике показан пример 12 наборов данных для всех возможных конфигураций по методу Ван дер Пау, полученные при одном линейном изменении поля.